最近，小編收到不少朋友的咨詢，大家都對(duì)推拉力測(cè)試機(jī)表現(xiàn)出了濃厚的興趣，希望能深入了解這款設(shè)備及其工作原理。在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性至關(guān)重要，而推拉力測(cè)試儀作為一種高精度的檢測(cè)設(shè)備，正扮演著重要的角色。它廣泛應(yīng)用于電子、半導(dǎo)體、汽車(chē)制造、航空航天等多個(gè)領(lǐng)域，幫助企業(yè)和科研機(jī)構(gòu)精準(zhǔn)評(píng)估材料和組件的機(jī)械性能。
一、什么是推拉力測(cè)試儀？
1、設(shè)備介紹
推拉力測(cè)試儀主要是用于為微電子引線鍵合后引線焊接強(qiáng)度測(cè)試、焊點(diǎn)與基板表面粘接力測(cè)試及其失效分析領(lǐng)域的專用動(dòng)態(tài)測(cè)試儀器，常見(jiàn)的測(cè)試有晶片推力、金球推力、金線拉力等，采用高速力值采集系統(tǒng)。
根據(jù)測(cè)試需要更換相對(duì)應(yīng)的測(cè)試模組,系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別模組量程。可以靈活得應(yīng)用到不同產(chǎn)品的測(cè)試，每個(gè)工位獨(dú)立設(shè)置安全高度位及安全限速，防止誤操作對(duì)測(cè)試針頭造成損壞。且具有測(cè)試動(dòng)作迅速、準(zhǔn)確、適用面廣的特點(diǎn)。
2、應(yīng)用范圍
適用于半導(dǎo)體IC封裝測(cè)試、LED 封裝測(cè)試、光電子器件封裝測(cè)試、PCBA電子組裝測(cè)試、汽車(chē)電子、航空航天 等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領(lǐng)域以及各類(lèi)院校教學(xué)和研究。
二、工作原理
推拉力測(cè)試儀的工作原理基于力學(xué)原理，即力與位移之間的關(guān)系。其核心組成部分包括：
傳動(dòng)機(jī)構(gòu)：用于生成并施加推力或拉力。
傳感器：測(cè)量樣品在受力過(guò)程中的位移和力值變化。
控制系統(tǒng)：設(shè)置測(cè)試參數(shù)，控制測(cè)試過(guò)程，并記錄數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)：分析測(cè)試數(shù)據(jù)，評(píng)估樣品的強(qiáng)度和性能。
在測(cè)試過(guò)程中，設(shè)備會(huì)對(duì)樣品施加逐漸增大的力，同時(shí)監(jiān)測(cè)其位移和形變。當(dāng)樣品達(dá)到極限并發(fā)生破壞時(shí)，設(shè)備捕捉到的最大力值即為樣品的極限強(qiáng)度。
三、使用方法
步驟一、使用前的準(zhǔn)備
1、設(shè)備及配件檢查
檢查推拉力測(cè)試機(jī)及其所有配件是否完整且功能正常，確保設(shè)備外觀無(wú)損壞。
確認(rèn)推刀（或鉤針）、夾具等關(guān)鍵部件已校準(zhǔn)，以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
2、模塊安裝與電源連接
將待測(cè)模塊正確安裝到推拉力測(cè)試機(jī)上。
連接電源并啟動(dòng)設(shè)備，等待系統(tǒng)自檢和模塊初始化完成。
檢查所有指示燈和顯示屏是否正常工作，確保系統(tǒng)準(zhǔn)備就緒。
3、推刀或鉤針的安裝與校準(zhǔn)
根據(jù)測(cè)試需求選擇合適的推刀或鉤針，并將其牢固安裝到旨定位置。
4、測(cè)試夾具固定
將電子元器件精確放置在測(cè)試夾具中，并確保其位置正確。
將夾具安裝到測(cè)試機(jī)的工作臺(tái)上，并用固定螺絲緊固，模擬實(shí)際使用中的固定狀態(tài)。
步驟二、測(cè)試操作步驟
1、測(cè)試參數(shù)設(shè)置
在測(cè)試機(jī)的軟件界面上輸入必要的測(cè)試參數(shù)，包括測(cè)試方法、傳感器選擇、測(cè)試速度、目標(biāo)力值、剪切高度和測(cè)試次數(shù)等。
完成參數(shù)設(shè)置后，保存并應(yīng)用這些參數(shù)，確保測(cè)試能夠按照預(yù)定條件執(zhí)行。
2、測(cè)試執(zhí)行
在顯微鏡下確認(rèn)電子元器件和推刀（或鉤針）的相對(duì)位置正確無(wú)誤。
啟動(dòng)測(cè)試程序，全程監(jiān)控測(cè)試過(guò)程，確保一切按照設(shè)定參數(shù)進(jìn)行。
若發(fā)現(xiàn)任何異常情況，立即停止測(cè)試以避免進(jìn)一步損壞。
3、測(cè)試結(jié)果觀察與分析
測(cè)試完成后，觀察電子元器件的破壞情況，并進(jìn)行失效分析。
根據(jù)測(cè)試結(jié)果，對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行必要的調(diào)整，并重新進(jìn)行測(cè)試以驗(yàn)證改進(jìn)措施的效果。
四、常用推刀鉤針
6、實(shí)測(cè)案例展示
1、推力測(cè)試
2、拉力測(cè)試
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